新型灵活的x光成像技术有望突破国外技术限制


时间:2021-04-01  来源:  作者:  点击次数:


新华社福州3月31日电(记者)福州大学教授杨等人发现一类高性能X射线发光纳米闪烁长余辉材料,有望突破国外技术限制,推动高端X射线成像设备国产化。

x射线成像技术在医学诊断、安全检测和工业无损检测中有着广泛而重要的应用。目前市场上主流的X射线成像设备是平板探测器,需要集成薄膜晶体管阵列(TFT)、非晶硅光电转换层和闪烁体。

“闪烁体是平板探测器的核心部件,其功能是将高能X射线光子转化为可见光。但目前包括高性能闪烁体材料在内的国产平板探测器核心部件大多依赖进口。”福州大学化学学院的研究员陈秋水说。

经过长期研究,研究者们制备了一种新型稀土纳米闪烁长余辉材料,并提出了高能X射线光子诱导缺陷产生长余辉发光的机理。该闪烁体具有尺寸易于控制、无色透明、分散性好、余辉性能优异的特点。


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